SEM3300是全新一代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，分辨率優(yōu)于 2.5 nm。特殊的電子光路設(shè)計(jì)，突破鎢燈絲分辨率極限，在低電 壓 1 kV 下，達(dá)到 5 nm 的分辨率。 擁有出色的成像質(zhì)量、在不同的視場范圍下均可得到高分 辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯 微成像的世界中盡情探索。

1) 電子槍：預(yù)對中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍

2) 分辨率：2.5 nm @ 20 kV，SE；4 nm @ 3 kV，SE；5 nm @ 1 kV，SE；4 nm @ 30 kV，BSE；

3) 加速電壓范圍：0.1 kV～30 kV；

4) 放大倍數(shù)范圍：1 x～300000 x

主要用于形貌觀察、顯微結(jié)構(gòu)分析、斷口形貌分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的用途。

產(chǎn)品優(yōu)勢

碳納米管50,000x @1KV Inlens-SE

隔膜15,000 @1KV Inlens-SE

金顆粒100,000x @20KV Inlens-SE

規(guī)格書

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