蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM場發射掃描電子顯微鏡具有出色的分辨率，在較低的加速電壓下仍可呈現給您更強的信號和更豐富的細節信息，其創新設計的NanoVP可變壓力模式，甚至讓您在使用時擁有在高真空模式下工作的感覺

更強的信號，更豐富的細節
蔡司GeminiSEM 500掃描電鏡為您呈現任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節信息，尤其在低的加速電壓下，在避免樣品損傷的同時快速地獲取更高清晰度的圖像。
經優化和增強的Inlens探測器可高效地采集信號，助您快速地獲取清晰的圖像，并使樣品損傷降至更低；
在低電壓下擁有更高的信噪比和更高的襯度，二次電子圖像分辨率1kV達0.9nm，500V達1.nm，無需樣品臺減速即可進行高質量的低電壓成像，
為您呈現任意樣品在納米尺度上更豐富的細節信息；
應用樣品臺減速技術-（Tandem decel），可在1 kV下獲得高達0.8nm二次電子圖像分辨率；
創新設計的可變壓力模式-NanoVP技術，讓您擁有身處在高真空模式下工作的感覺。

適用于您高要求亞納米成像、分析和樣品靈活性方面的場發射掃描電鏡。

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