掃描電鏡一般說的是掃描電子顯微鏡——SEM。
掃描電子顯微鏡不同于透射電子顯微鏡(TEM)和光學(xué)顯微鏡的,它是介于二者之間的一種高分辨率樣品檢測設(shè)備。掃描電子顯微鏡利用聚焦很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相互作用,來激發(fā)樣品的各種物理信息,再將收集到的信息進(jìn)行放大,再進(jìn)行成像,從而將物質(zhì)微觀的形貌表征出來。
掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm,放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬倍及以上,并且掃描電子顯微鏡的倍數(shù)連續(xù)可調(diào)。掃描電子顯微鏡的主要特點是景深大,視野廣,成像立體效果好。此外,掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合,可以做到觀察微觀形貌的同時進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等。的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。
科研設(shè)備丨半導(dǎo)體材料丨高精度檢測丨清潔度檢測丨激光刻蝕丨光柵刻蝕丨離子刻蝕丨等離子清洗丨半導(dǎo)體檢驗丨蔡司電鏡丨材料科研丨二維刻蝕丨傾角刻蝕丨3維超景深丨掃描電鏡丨失效分析丨共聚焦顯微鏡 XML地圖