透射電子顯微鏡（TEM）與掃描電子顯微鏡（SEM）是兩種電子顯微技術，它們在工作原理及應用領域方面具有顯著差異：

1. 工作原理：TEM通過電子束穿透經過特殊制備的薄樣品層，利用透鏡系統對穿透后的電子束進行聚焦成像。SEM則通過聚焦電子束掃描樣品表面，通過探測從樣品表面散射的次級電子來構建圖像。

2. 樣品制備：TEM要求樣品必須制備成極薄的切片，以確保電子束能夠穿透。SEM對樣品的制備要求相對寬松，但樣品表面需具備一定的導電性，可能需要進行金屬噴涂或其他導電處理。

3. 分辨能力：TEM的分辨率較高，能夠達到原子尺度。SEM的分辨率通常處于納米級別。

4. 觀察深度：TEM能夠揭示樣品內部的微觀結構，而SEM主要用于觀察樣品表面的形態特征。5. 應用范圍：TEM廣泛應用于材料科學、生物學等領域，用于研究材料的晶體結構和生物樣品的超微結構。SEM則在材料科學、生物學、地質學等多個領域中，用于觀察樣品表面的細節。

6. 圖像特性：TEM產生的圖像是二維的，反映樣品內部結構。SEM產生的圖像是三維的，能夠展現樣品表面的立體特征。

根據研究的具體需求和樣品的性質，研究人員會選擇適當的電子顯微技術進行分析和研究。在繼續探討透射電子顯微鏡（TEM）與掃描電子顯微鏡（SEM）的差異時，我們可以進一步深入到它們的技術細節、操作復雜性以及數據處理的層面。

7. 技術復雜性：TEM由于其高分辨率和深入內部結構的觀測能力，其技術實現更為復雜。它需要高度穩定的電子束源、精密的電磁透鏡系統以及復雜的真空環境來維持電子束的路徑。相比之下，SEM雖然也需要在真空環境下工作，但其整體系統設計和技術要求相對較低，更容易實現和維護。

8. 操作復雜度：由于TEM的技術復雜性，其操作也更為繁瑣。操作者需要具備較高的專業技能，以調整和優化顯微鏡的各項參數，確保獲得高質量的圖像。SEM雖然也需要一定的操作技巧，但相對而言，其操作流程更為直觀和簡單，適合更廣泛的研究人員使用。

9. 數據處理與分析：TEM和SEM產生的圖像數據都需要經過后續的處理和分析才能得出有價值的結論。然而，由于TEM圖像的分辨率更高，包含的信息更為豐富，其數據處理和分析過程也更為復雜。這要求研究者具備深厚的圖像處理和分析能力，以充分挖掘TEM圖像中的信息。SEM圖像雖然分辨率稍低，但其直觀性和立體感使得數據分析過程相對較為直接。

10. 成本與可獲取性：考慮到TEM的技術復雜性和高精度要求，其制造成本和維護費用通常較高。因此，并非所有研究機構都能輕易配備TEM設備。相比之下，SEM的成本更低，可獲取性更強，是許多研究機構和實驗室中常見的分析工具。

綜上所述，透射電子顯微鏡（TEM）與掃描電子顯微鏡（SEM）在成像原理、樣品制備、分辨能力、觀察深度、應用范圍、圖像特性、技術復雜性、操作復雜度、數據處理與分析以及成本與可獲取性等方面均存在顯著差異。研究人員應根據具體的研究需求和實驗條件選擇合適的顯微技術進行實驗和分析。